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    x-ray镀层检测仪

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    是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF);其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;采用小光斑设计,对大型PCB板小测试点精确定位,避免材质干扰;开放性可调样品台,应对各种大型PCB板,无需拆分即可直接测试。 ● RoHS检测:Pb(铅)、Cd(镉)、Hg(汞)、Cr(铬) ● 卤素检测:Br(

    1. 详细信息

    是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF);其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;采用小光斑设计,对大型PCB板小测试点精确定位,避免材质干扰;开放性可调样品台,应对各种大型PCB板,无需拆分即可直接测试。

     

    ● RoHS检测:Pb(铅)、Cd(镉)、Hg(汞)、Cr(铬)

    ● 卤素检测:Br(溴)、Cl(氯)

    ● 镀层测试:应对各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn等

     

    辐射保护

    ● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线

    ● 辐射标志警示

    ●仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》

    硬件技术

    ● X射线下照式,激光对焦可调样品仓,对于大件样品、异形不平整样品,无需拆分打磨,可直接测试

    ● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率

    ● 最小光斑0.2mm,可针对各种样品中的小测试点精确定位,避免材质干扰,测量结果更准确

    ● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计

    电路系统符合EMCFCC测试标准

    软件技术(HeLeeX ED Workstation V3.0

    ● 分析元素:Na~U之间元素

    ● 分析时间:90

    ● 界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作

    ● 数据一键备份,一键还原、一键清理功能,保护用户数据安全

    ● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度

    ● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。

     

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